テストパターン
テストパターンとは、電子部品や装置(ハードウェア)、ソフトウェアが要求仕様にしたがって動作することを検証するためにこれらに入力し、得られた出力を観測するための電気信号やデータ(テストデータとも)のことである。 検証の対象物の動作仕様に応じて適切なテストパターンが決められるが、異なった性質の仕様検証のためには各々の性質に適した複数パターンを用いる。
テストパターンとは、電子部品や装置(ハードウェア)、ソフトウェアが要求仕様にしたがって動作することを検証するためにこれらに入力し、得られた出力を観測するための電気信号やデータ(テストデータとも)のことである。 検証の対象物の動作仕様に応じて適切なテストパターンが決められるが、異なった性質の仕様検証のためには各々の性質に適した複数パターンを用いる。
テストパターンとは、電子部品や装置(ハードウェア)、ソフトウェアが要求仕様にしたがって動作することを検証するためにこれらに入力し、得られた出力を観測するための電気信号やデータ(テストデータとも)のことである。 検証の対象物の動作仕様に応じて適切なテストパターンが決められるが、異なった性質の仕様検証のためには各々の性質に適した複数パターンを用いる。
出典: Wikipedia「テストパターン」 · CC BY-SA 4.0
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