ドレイン誘起障壁低下
ドレイン誘起障壁低下(ドレインゆうきしょうへきていか、英語: Drain-induced barrier lowering、DIBL)とは、MOSFETの短チャネル効果の一つで、ドレイン電圧が大きい場合に閾値電圧が低下する現象のこと。 長チャネルのプレーナー型FETでは、チャネルの狭くなった部分(ボトルネック)はドレイン接触から十分に離れた所にあり、基板とゲートの結合によりドレインからの静電的に遮蔽されている。
ドレイン誘起障壁低下(ドレインゆうきしょうへきていか、英語: Drain-induced barrier lowering、DIBL)とは、MOSFETの短チャネル効果の一つで、ドレイン電圧が大きい場合に閾値電圧が低下する現象のこと。 長チャネルのプレーナー型FETでは、チャネルの狭くなった部分(ボトルネック)はドレイン接触から十分に離れた所にあり、基板とゲートの結合によりドレインからの静電的に遮蔽されている。
ドレイン誘起障壁低下(ドレインゆうきしょうへきていか、英語: Drain-induced barrier lowering、DIBL)とは、MOSFETの短チャネル効果の一つで、ドレイン電圧が大きい場合に閾値電圧が低下する現象のこと。 長チャネルのプレーナー型FETでは、チャネルの狭くなった部分(ボトルネック)はドレイン接触から十分に離れた所にあり、基板とゲートの結合によりドレインからの静電的に遮蔽されている。
出典: Wikipedia「ドレイン誘起障壁低下」 · CC BY-SA 4.0
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