原子間力顕微鏡

原子間力顕微鏡（げんしかんりょくけんびきょう、英: atomic force microscope、 AFM）は、走査型プローブ顕微鏡（SPM）の一種であり、試料の表面と探針の原子間にはたらく力を検出して画像を得る顕微鏡である。原子間力はあらゆる物質の間に働くため容易に試料を観察することができる。