JTAG
JTAG（ジェイタグ、英語: Joint Test Action Group）は、集積回路や基板の検査、デバッグなどに使える、バウンダリスキャンテストやテストアクセスポートの標準 IEEE 1149.1 の通称である。 本来はこの検査方式を定めた業界団体（Joint European Test Action Group）の名称の略。
JTAG（ジェイタグ、英語: Joint Test Action Group）は、集積回路や基板の検査、デバッグなどに使える、バウンダリスキャンテストやテストアクセスポートの標準 IEEE 1149.1 の通称である。 本来はこの検査方式を定めた業界団体（Joint European Test Action Group）の名称の略。
JTAG（ジェイタグ、英語: Joint Test Action Group）は、集積回路や基板の検査、デバッグなどに使える、バウンダリスキャンテストやテストアクセスポートの標準 IEEE 1149.1 の通称である。 本来はこの検査方式を定めた業界団体（Joint European Test Action Group）の名称の略。
出典: Wikipedia「JTAG」 · CC BY-SA 4.0
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