NBTI
NBTI（エヌビーティーアイ）とは、（英語: Negative Bias Temperature Instability : 負バイアス温度不安定性）の略で、P型半導体(PMOS)の劣化メカニズムのひとつ。 古くはスロートラップ現象と呼ばれていた。
NBTI（エヌビーティーアイ）とは、（英語: Negative Bias Temperature Instability : 負バイアス温度不安定性）の略で、P型半導体(PMOS)の劣化メカニズムのひとつ。 古くはスロートラップ現象と呼ばれていた。
NBTI（エヌビーティーアイ）とは、（英語: Negative Bias Temperature Instability : 負バイアス温度不安定性）の略で、P型半導体(PMOS)の劣化メカニズムのひとつ。 古くはスロートラップ現象と呼ばれていた。
出典: Wikipedia「NBTI」 · CC BY-SA 4.0
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