X線小角散乱
X線小角散乱（Xせんしょうかくさんらん、英: small angle X-ray scattering）とは、X線を物質に照射し、散乱角が小さく散乱されたX線を測定することにより物質の構造情報を得る手法である。 略してSAXSということも多い。
X線小角散乱（Xせんしょうかくさんらん、英: small angle X-ray scattering）とは、X線を物質に照射し、散乱角が小さく散乱されたX線を測定することにより物質の構造情報を得る手法である。 略してSAXSということも多い。
X線小角散乱（Xせんしょうかくさんらん、英: small angle X-ray scattering）とは、X線を物質に照射し、散乱角が小さく散乱されたX線を測定することにより物質の構造情報を得る手法である。 略してSAXSということも多い。
出典: Wikipedia「X線小角散乱」 · CC BY-SA 4.0
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